Под морфологией понимают внешнее строение объекта, а также форму, размеры и взаимное расположение (топографию) образующих его структурных элементов (частей целого, включений, деформаций, дефектов и т. п.) на поверхности и в объеме, возникающих при изготовлении, существовании и взаимодействии объекта в расследуемом событии.
Наиболее распространенными методами морфологического анализа являются методы оптической микроскопии — совокупность методов наблюдения и исследования с помощью оптического микроскопа:
• Ультрафиолетовая и инфракрасная микроскопия позволяет проводить исследования за пределами видимой области спектра. Ультрафиолетовая микроскопия (250—400 км) применяется для исследования биологических объектов (например, следы крови, спермы), инфракрасная микроскопия (0,75—1,2 мкм) дает возможность изучать внутреннюю структуру объектов, непрозрачных в видимом свете (кристаллы; минералы; некоторые виды стекла; следы выстрела; залитые, заклеенные тексты).
• Стереоскопическая микроскопия позволяет видеть предмет объемным. Применяется для исследования практически всех видов объектов (следы человека и животных, документы, лакокрасочные покрытия, металлы и сплавы, волокна, минералы, пули и гильзы и т.д.). С помощью двух окуляров создают объемное изображение. Микроскопы, как правило, снабжены насадкой для фотографирования.
• Сравнительные микроскопы (типа МИС, МС, МСК) имеют спаренную оптическую систему, что позволяет производить одновременное исследование двух объектов. Микроскопы специальные криминалистические типа МСК позволяют наблюдать изображение не только с помощью окуляра, но и на специальном экране. Современные сравнительные микроскопы, оснащенные 'телекамерами и управляемые персональными компьютерами, позволяют получать комбинированное изображение сравниваемых объектов на телеэкране (телевизионная микроскопия), исследовать объекты в поляризованном свете, со светофильтрами, в инфракрасных или ультрафиолетовых лучах, дают возможность чисто электронным путем изменять масштаб контрастность и яркость изображения.
• Просвечивающая электронная микроскопия основана на рассеянии электронов без изменения энергии при прохождении их через вещество или материал. Просвечивающий электронный микроскоп используют для изучения деталей микроструктуры объектов, находящихся за пределами разрешающей способности оптического микроскопа (мельче 0,1 мкм).
Задавайте вопросы нашему консультанту, он ждет вас внизу экрана и всегда онлайн специально для Вас. Не стесняемся, мы работаем совершенно бесплатно!!!
Также оказываем консультации по телефону: 8 (800) 600-76-83, звонок по России бесплатный!
Позволяет исследовать объекты — вещественные доказательства в виде тонких срезов (например, волокон или лакокрасочных покрытий для исследования особенностей морфологии их поверхности); суспензий, например, горюче-смазочных материалов. Микроскопы просвечивающего типа имеют разрешающую способность порядка 10-8см.
• Растровая электронная микроскопия (РЭМ), получившая широкое распространение в экспертных исследованиях, основана на облучении изучаемого объекта хорошо сфокусированным с помощью специальной линзовой системы электронным пучком предельно малого сечения (зонд), обеспечивающим достаточно большую интенсивность ответного сигнала (вторичных электронов) от того участка объекта, на который попадает пучок. Разного рода сигналы представляют информацию об особенностях соответствующего участка объекта. Размер участка определяется сечением зонда (10-8 - 10-7 см). Чтобы получить информацию о достаточно большой области, дающей представление о морфологии объекта, зонд заставляют обегать («сканировать» от англ. scanning — обегание) заданную площадь по определенной программе. РЭМ позволяет повысить глубину резкости почти в 300 раз по сравнению с обычным оптическим микроскопом и достигать увеличения до 200 000х. Широко используется в экспертной практике для микро-трасологических исследований, изучения морфологических признаков самых разнообразных микрочастиц (металлов, лакокрасочных покрытий, волос, волокон, почвы, минералов). Многие растровые электронные микроскопы снабжены так называемыми микрозондами — приставками, позволяющими проводить рентгеноспектральный анализ элементного состава изучаемой микрочастицы.
Статью подготовил ведущий маркетолог-аналитик Воронов Валерий Иванович. 
